Coplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings

Number of the records: 1

Title	Coplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings
Author	Mikulik P.
Co-authors	Jergel Matej 1954- ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Baumbach T.
	Brunel M.
	Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID
	Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
	Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
	Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID
	Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID

Source document	6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : Proceedings. - Noordwijkerhout, Netherlands, 1999
Language	eng - English
Country	NL - Netherlands
Document kind	rozpis článkov z periodík (rzb)
Category	AFC - Published papers from foreign scientific conferences
Year	1999

article

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
0

Number of the records: 1