Flux-creep mechanism of critical current limitations in Tl-based thin film microstrips

Number of the records: 1

Title	Flux-creep mechanism of critical current limitations in Tl-based thin film microstrips
Author	Štrbík Vladimír 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
Co-authors	Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Jergel Milan
	Machajdík Daniel SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Beňačka Štefan 1933 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Kobzev A.P.

Source document	Journal of Superconductivity. Vol. 11 (1998), p. 65-66
Language	eng - English
Document kind	rozpis článkov z periodík (rbx)
Category	ADC
Year	1998

article

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
1998

Number of the records: 1