Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO

Number of the records: 1

Title	Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO
Author	Schneider Andrea
Co-authors	Diener K.-H.
	Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	1955- Fischerová Mária SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS
	Ivask E.
	Ubar R.
	Pleskacz W.
	Kuzmicz W.

Source document	BEC 2002 : Proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference. (2002), S. 303-305. - Tallinn
Language	eng - English
Country	EE - Estonia
Document kind	rozpis článkov z periodík (rzb)
Category	AEC - Scientific papers in foreign peer-reviewed proceedings, monographs
Category of document (from 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Type of document	príspevok
Year	2002

book

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2002

Number of the records: 1