Number of the records: 1
Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO
Title Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO Author Schneider Andrea Co-authors Diener K.-H. Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS RID 1955- Fischerová Mária SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS Ivask E. Ubar R. Pleskacz W. Kuzmicz W. Source document BEC 2002 : Proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference. (2002), S. 303-305. - Tallinn Language eng - English Country EE - Estonia Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Category AEC - Scientific papers in foreign peer-reviewed proceedings, monographs Category of document (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok Year 2002 book
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2002
Number of the records: 1