Number of the records: 1
Influence of off-state stress on electrical properties of Al0,19Ga0,81N/GaN heterostructure field effect transistor
Title Influence of off-state stress on electrical properties of Al0,19Ga0,81N/GaN heterostructure field effect transistor Author Florovič M. Co-authors Kováč Ján Škriniarová Jaroslava Donoval D. Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Paszkiewicz R. Tlaczala M. Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Source document / Pudiš D. ; Harmatha L. ; Müllerová J. ; Jamnický I. . P. 45-48 APCOM 2009 : proceedings of the 15th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, held in KRÚ Bystrá, Liptovský Ján, Slovak Republic, June 24-26, 2009. - Žilina : University of Žilina, 2009 Language eng - English Country SK - Slovak Republic Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Category AED - Scientific papers in domestic peer-reviewed proceedings, monographs Category of document (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok Year 2009 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2009
Number of the records: 1