Number of the records: 1
Memory testing and self-repair
Title Memory testing and self-repair. Chapter 7 Document part Chapter 7 Author Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS Co-authors Gramatová Elena 1949- SCOPUS RID Source document / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 155-174. - New York : Information Science Reference, 2011 Language eng - English Country US - United States of America Document kind rozpis článkov z kníh (kapitoly) Citations KRIŠTOFÍK, Š. Algoritmus vstavanej opravy pre vnorené pamäte s blokovou architektúrou záloh. In Počítačové architektúry a diagnostika - PAD 2012. ISBN 978-80-01-05106-1, 2012, pp. 103-108. KINCEL, Andrej - BALAZ, Marcel. MBIST for LEON3 processor core cache. In PROCEEDINGS OF THE 2013 IEEE 16TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS & SYSTEMS (DDECS), 2013, vol., no., pp. 287-288. KRIŠTOFÍK, Š. Príspevok k architektúram a algoritmom samočinnej opravy pamätí RAM. Dizertačná práca. FIIT STU, Bratislava. 2015, 121 s. SPURNÝ, M. Configurable spare database reduction for RAMs. In 12th Student Research Conference in Informatics and Information Technologies (IIT.SRC 2016). 2016, pp. 53-58. Category ABC - Chapters in scientific monographs published abroad Category of document (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document kapitola Year 2011 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2011
Number of the records: 1