Number of the records: 1
Calculations and surface quality measurements of high-asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging and metrological applications
Title Calculations and surface quality measurements of high-asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging and metrological applications Author Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Co-authors Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS RID ORCID Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Vagovič Patrik Ferrari C. Mikulík P. Demydenko Maksym 1985 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mikloška M. Source document Optical Engineering. Vol. 54, (2015), 035101 Language eng - English Document kind rozpis článkov z periodík (rbx) Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2015 Registered in WOS Registered in SCOPUS Registered in CCC DOI 10.1117/1.OE.54.3.035101 
article
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2015 2014 0.954 Q3 0.458 Q1
Number of the records: 1