Number of the records: 1  

Particle detectors based on 4H-SiC epitaxial layer and their properties

  1. TitleParticle detectors based on 4H-SiC epitaxial layer and their properties
    Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID
    Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Šagátová A.

    Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Sedlačková K.

    Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Nečas V.

    Skuratov V.A.

    Source document ASDAM 2016 : the 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 141-144. - : IEEE, 2016 / Haščík Štefan 1956 ; Dzuba Jaroslav 1987 ; Vanko Gabriel 1981
    Languageeng - English
    Document kindrozpis článkov z periodík (rzb)
    CategoryADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2016
    Registered inWOS
    Registered inSCOPUS
    DOI 10.1109/ASDAM.2014.6998647
    article

    article

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    N
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2016
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.