High energy ion detection using 4H-SiC semiconductor detector

Number of the records: 1

Title	High energy ion detection using 4H-SiC semiconductor detector
Author	Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
Co-authors	Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Sedlačková K.
	Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Šagátová A.
	Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Skuratov V.A.
	Nečas V.

Source document	APCOM 2017 : proceedings of the 23th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, June 12-14, 2017, Štrbské Pleso, Slovak Republic. P. 154-157. - Bratislava : SPEKTRUM STU, 2017 / Vajda J. ; Jamnický I.
Language	eng - English
Document kind	rozpis článkov z periodík (rzb)
Category	AFD - Published papers from domestic scientific conferences
Year	2017

article

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2017

Number of the records: 1