Number of the records: 1
Interface states analysis of Al2O3/GaN MOS capacitors with semi-insulating C-doped GaN
Title Interface states analysis of Al2O3/GaN MOS capacitors with semi-insulating C-doped GaN Author Stoklas Roman 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Co-authors Šichman Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Source document ASDAM 2022 : Conference Proceedings. P. 15-16. - : IEEE, 2022 / Marek Juraj ; Donoval D. ; Vavrinský E. ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Language eng - English Country US - United States of America Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Category AFD - Published papers from domestic scientific conferences Category of document (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok z podujatia Year 2022 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2022
Number of the records: 1