Demonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer

Number of the records: 1

Title	Demonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer
Author	Oroszová Lenka SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV
Co-authors	Saksl Karel 1974 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ^SCOPUS ^ORCID
	Csík Dávid SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV
	Nigutová Katarína SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV
	Molčanová Zuzana 1985 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ^SCOPUS ^ORCID
	Ballóková Beáta 1966 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ^ORCID

Source document	Coatings. Vol. 14 iss. 3 (2024), art. no. 295
Language	eng - English
Country	CH - Switzerland
Document kind	rozpis článkov z periodík (rbx)
Category	ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
Category of document (from 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Type of document	článok
Year	2024
Registered in	WOS
Registered in	SCOPUS
Registered in	CCC
DOI	10.3390/coatings14030295

article

	File name	Access	Size	Downloaded	Type	License
	Demonstration of Sensitivity of the.pdf	available	941.1 KB	1	Publisher's version

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2024	2023	2.9	Q2	0.493	Q2

Number of the records: 1