Electrical properties study of the 4H-SiC detectors based on thick epitaxial layer

Number of the records: 1

Title	Electrical properties study of the 4H-SiC detectors based on thick epitaxial layer
Author	Šagátová A.
Co-authors	Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Kurucová N.
	Nečas V.
	Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Evseev S.A.
	Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID

Source document	AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2023). Vol. 3054 (2024), no. 050011
Language	eng - English
Country	US - United States of America
Document kind	rozpis článkov z periodík (rbx)
Category	ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus
Category of document (from 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Type of document	článok z podujatia
Year	2024
Registered in	SCOPUS
DOI	10.1063/5.0187794

article

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2024	2023			0.152

Number of the records: 1