Number of the records: 1  

Vyšetrovanie vlastností antireflekčných vrstiev SiN a SiO pre GaAs fotodetektory

  1. TitleVyšetrovanie vlastností antireflekčných vrstiev SiN a SiO pre GaAs fotodetektory
    Author Šafránková Jaroslava SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Guldan Arnošt SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Kubek Jozef SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Source documentElektrotechnický časopis. Roč. 36, č. 10 (1985), s.
    Languageslo - Slovak
    CountryCS - Czechoslovakia
    Document kindrozpis článkov z periodík (rbx)
    KeywordsGaAs * fotodetektory - vrstvy antireflekčné * SiN * SiO
    CategoryADFB - Scientific papers in other domestic journals not registered in Current Contents Connect without IF (non-impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year1985
    article

    article

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    N
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    1985
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.