Number of the records: 1
Diagnostics of LT GaAs/InP structures by micro-Raman spectroscopy
Title Diagnostics of LT GaAs/InP structures by micro-Raman spectroscopy Author Srnánek R. Co-authors Irmer R. Zalusky F. Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kúdela Róbert 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Vincze A. Novotný I. John J. Source document ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 55-58. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E. Language eng - English Country US - United States of America Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Category AEC - Scientific papers in foreign peer-reviewed proceedings, monographs Category of document (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok Year 2006 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2006
Number of the records: 1