Number of the records: 1  

Demonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer

  1. TitleDemonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer
    Author Oroszová Lenka SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV
    Co-authors Saksl Karel 1974 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV    SCOPUS    ORCID

    Csík Dávid SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV

    Nigutová Katarína SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV

    Molčanová Zuzana 1985 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV    SCOPUS    ORCID

    Ballóková Beáta 1966 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV    ORCID

    Source document Coatings. Vol. 14 iss. 3 (2024), art. no. 295
    Languageeng - English
    CountryCH - Switzerland
    Document kindrozpis článkov z periodík (rbx)
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2024
    Registered inWOS
    Registered inSCOPUS
    Registered inCCC
    DOI 10.3390/coatings14030295
    article

    article

    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    Demonstration of Sensitivity of the.pdfavailable941.1 KB1Publisher's version
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    202420232.9Q20.493Q2
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.