Number of the records: 1
Delta-doped layer influence on Schottky diodes parameters
Title Delta-doped layer influence on Schottky diodes parameters Author Osvald Jozef 1953 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Source document / Osvald Jozef 1953 ; Haščík Štefan 1956 ; Kuzmík Ján 1960 ; Breza J. . P. 391-394 ASDAM 2000 : 3rd International EuroConference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 2000 Language eng - English Country US - United States of America Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Citations CHIU, H.C. - CHEN, C.W. - HUANG, Y.C. In IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. JAN 2008, vol. 55, no. 1, p. 256-260. Category AEC - Scientific papers in foreign peer-reviewed proceedings, monographs Category of document (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok Year 2000 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2000
Number of the records: 1