Testing of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector

Number of the records: 1

Title	Testing of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector
Author	Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
Co-authors	Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
	Ferrari C.

Source document	Journal of Instrumentation. Vol. 16 (2021), no. P06015
Language	eng - English
Document kind	rozpis článkov z periodík (rbx)
Category	ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
Category of document (from 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Type of document	článok
Year	2021
Registered in	WOS
Registered in	SCOPUS
Registered in	CCC
DOI	10.1088/1748-0221/16/06/P06015

article

	File name	Access	Size	Downloaded	Type	License
	Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf	available	4.2 MB	1	Author's preprint
	Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf	Neprístupný/archív	925.3 KB	1	Publisher's version

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2021	2020	1.415	Q4	0.741	Q1

Number of the records: 1