Number of the records: 1
Characterization of MOS structures by conductance method
Title Characterization of MOS structures by conductance method Author Nemec M. Co-authors Jurkovič M. Harmatha L. Mokryš P. Weber B Písečný Pavol Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Source document / Vajda J. ; Weiss M. APCOM 2010 : proceedings of the 16th International Conference on Applied Physics of Condensed matter. P. 150-153. - Bratislava : Slovenská technická univerzita v Bratislave, 2010 Language eng - English Country SK - Slovak Republic Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Category AED - Scientific papers in domestic peer-reviewed proceedings, monographs Category of document (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok Year 2010 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2010
Number of the records: 1