Number of the records: 1
Coplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings
Title Coplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings Author Mikulik P. Co-authors Jergel Matej 1954- SCOPUS RID ORCID Baumbach T. Brunel M. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS RID ORCID Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS RID ORCID Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS RID Source document 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : Proceedings. - Noordwijkerhout, Netherlands, 1999 Language eng - English Country NL - Netherlands Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Category AFC - Published papers from foreign scientific conferences Year 1999 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 0
Number of the records: 1