Number of the records: 1
Microwave characterization and properties of 2 µm gate length AlGaN/Gan HEMT structures
Title Microwave characterization and properties of 2 µm gate length AlGaN/Gan HEMT structures Author Tomáška M. Co-authors Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Mišun M. Source document . P. 317-320 COMITE 2008 : Proceedings of the 14th Conference on Microwave Techniques. - Praha : Československá sekce IEEE, 2008 Language eng - English Country CZ - Czech Republic Document kind rozpis článkov z periodík (rzb) Category AEE - Scientific papers in foreign non peer-reviewed proceedings, monographs Category of document (from 2022) O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka Type of document príspevok Year 2008 
article
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2008
Number of the records: 1