Search results

Records found: 5  
Your query: Author Sysno = "^sav_un_auth 0242143^"
  1. TitleExperimental analysis of the electric field distribution in semi-insulating GaAs detectors via alpha particles
    Author Kurucová N.
    Co-authors Šagátová A.
    Pavlovič M.
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Škriniarová Jaroslava SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Predanocy Martin 1984- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Source document Journal of Instrumentation. Vol. 19 (2024), art. no. C03049
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2024
    DOI 10.1088/1748-0221/19/03/C03049
    article

    article

  2. TitleInfluence of quasi-ohmic electrode on performance of semi-insulting GaAs detectors
    Author Kurucová N.
    Co-authors Šagátová A.
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2023). Vol. 3054 (2024), no. 050005
    CategoryADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok z podujatia
    Year2024
    DOI 10.1063/5.0192046
    article

    article

  3. TitleElectrical properties study of the 4H-SiC detectors based on thick epitaxial layer
    Author Šagátová A.
    Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kurucová N.
    Nečas V.
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Evseev S.A.
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2023). Vol. 3054 (2024), no. 050011
    CategoryADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok z podujatia
    Year2024
    DOI 10.1063/5.0187794
    article

    article

  4. TitleImaging and spectrometric performance of SiC Timepix3 radiation camera
    Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Šagátová A.
    Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Novák A.
    Kurucová N.
    Polansky Š.
    Jakubek J.
    Source document Journal of Instrumentation. Vol. 19 (2024), no. C01003
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2024
    DOI 10.1088/1748-0221/19/01/C01003
    article

    article

  5. TitleInfluence of base material thickness on spectrometry of semiconductor detectors based on semi-insulating GaAs
    Author Šagátová A.
    Co-authors Kurucová N.
    Kotorová S.
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Action APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023
    VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023
    APVV 22-0382. vedúci projetu: Zaťko, Bohumír : 2023-2027
    Source document EPJ Web of Conferences : ANIMMA 2023. Vol. 288 (2023), no. 10013
    CategoryADEB - Scientific papers in other foreign journals not registered in Current Contents Connect without IF (non-impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok z podujatia
    Year2023
    DOI 10.1051/epjconf/202328810013
    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    Influence of base material thickness on.pdfavailable821.1 KB0Publisher's version
    article

    article



  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.