Search results
Title Two-dimensional x-ray magnification based on a monolithic beam conditioner Author Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Mikulik P. Ferrari C. Hrdý J. Baumbach T. Freund A. Kuběna A. Source document Journal of Physics D: Applied Physics. Vol. 36 (2003), p. A65-A68 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2003 
article
Title Coplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings Author Mikulik P. Co-authors Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Baumbach T. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Ortega L. Tucoulou R. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Source document Journal of Physics D: Applied Physics. Vol. 34, no. 10A (2001), p. A188-A192. - Bristol : Institute of Physics Publishing Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2001 article
Title Multilayer gratings for X-UV optics Author Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Co-authors Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Source document Acta Physica Slovaca. Vol. 50 (2000), p. 427-438 Category ADD Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2000 article
Title Structural characterization of lamellar multilayer gratings by X-ray reflectivity and scanning electron Author Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Co-authors Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Source document Journal of Physics D. Vol. 32, no. 10A (1999), p. A220-A223 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 1999 article
Title Structural characterization of a lamellar W/Si multilayer grating. Author Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Co-authors Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Source document Journal of Applied Physics. Vol. 85, no. 2 (1999), p. 1225-1227 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 1999 DOI 10.1063/1.369346 article
Title W/Si multilayer gratings for X-UV optics Author Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Co-authors Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Source document Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Vol. 6, no. 1 (1999), p. 11-14 Category ADEB - Scientific papers in other foreign journals not registered in Current Contents Connect without IF (non-impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 1999 URL URL link article
Title Coplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings Author Mikulik P. Co-authors Jergel Matej 1954- Baumbach T. Brunel M. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Action 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : September 1999 : Noordwijkerhout, Netherlands Source document 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : Proceedings. - Noordwijkerhout, Netherlands, 1999 Category AFC - Published papers from foreign scientific conferences Year 1999 article