Search results
Title Spectrometry of electron irradiated CdTe Schottky-barrier semiconductor detectors before polarization onset Author Sedlačková K. Co-authors Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Action APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Source document AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2022), 22–24 June 2022, Štrbské Pleso, Slovak Republic. Vol. 2778 (2023), no. 060010 Category ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok z podujatia Year 2023 DOI 10.1063/5.0136307 File name Access Size Downloaded Type License Spectrometry of electron irradiated cdTe Schottky-barrier semiconductor detectors before polarization onset.pdf Neprístupný/archív 1.1 MB 0 Publisher's version Title Polarization effect of Schottky-barrier CdTe semiconductor detectors after electron irradiation Author Sedlačková K. Co-authors Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Nečas V. Source document Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. Vol. 1027 (2022), no. 166282 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2022 DOI 10.1016/j.nima.2021.166282 File name Access Size Downloaded Type License Polarization effect of Schottky barrier CdTe semiconductor.pdf Neprístupný/archív 1.2 MB 2 Publisher's version Title High-energy electron irradiation of semiconductor detectors and radiation hardness comparison Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Šagátová A. Sedlačková K. Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Source document Progress in applied surface, interface and thin film science – solar renewable energy news 2021. SURFINT – SREN VII : extended abstract book. P. 77-78. - Bratislava : Comenius Univ., 2021 / Brunner Róbert 1954 Category AFH - Abstracts of papers from domestic conferences Year 2021 Title Effects of electron irradiation on spectrometric properties of Schottky barrier CdTe radiation detectors Author Sedlačková K. Co-authors Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pavlovič M. Šagátová A. Nečas V. Action APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 Source document International Journal of Modern Physics: Conference Series : Applications of Nuclear Techniques (CRETE19). Vol. 50 (2020), no. 2060017 Category ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2020 DOI 10.1142/S2010194520600174 File name Access Size Downloaded Type License Effects of electron irradiation on spectrometric properties.pdf available 584.8 KB 1 Publisher's version Title The study of 4H-SiC alpha particle detectors with different Schottky contact metallization Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Ryc L. Šagátová A. Sedlačková K. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Source document AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2018). Vol. 1996 (2018), no. 020051 Category ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1063/1.5048903 Title Comparison of semi-insulating GaAs and 4H-SiC-based semiconductor detector covered by LiF film for thermal neutron detection Author Sedlačková K. Co-authors Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Nečas V. Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Source document Applied Surface Science. Vol. 461 (2018), p. 242-248 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1016/j.apsusc.2018.05.121 Title Neutron detection using epitaxial 4H-SiC detector structures Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Šagátová A. Sedlačková K. Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Action VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 Source document ASDAM 2018 : The Twelfth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 39-42. - : IEEE, 2018 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E. ; ASDAM 2018 The Twelfth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Category AFD - Published papers from domestic scientific conferences Year 2018 DOI 10.1109/ASDAM.2018.8544539 Title Schottky barrier detectors based on high quality 4H-SIC semiconductor: electrical and detection properties Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Osvald Jozef 1953 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sedlačková K. Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Skuratov V.A. Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Source document Applied Surface Science. Vol. 461 (2018), p. 276-280 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1016/j.apsusc.2018.07.008 Title From single GaAs detector to sensor for radiation imaging camera Author Šagátová A. Co-authors Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Ly Anh T. Sedlačková K. Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Source document Applied Surface Science. Vol. 461 (2018), p. 3-9 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1016/j.apsusc.2018.06.269 Title Characteristics of Si and SiC detectors at registration of Xe ions Author Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Gurov J.B. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Mitrofanov S.V. Rozov S.V. Sedlačková K. Sandukovsky V.G. Semin V.A. Nečas V. Skuratov V.A. Source document Journal of Instrumentation. Vol. 13 (2018), no. P11005 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1088/1748-0221/13/11/P11005 URL URL link File name Access Size Downloaded Type License Characteristics of Si and SiC detectors at registration of Xe ions.pdf Neprístupný/archív 1.2 MB 1 Publisher's version