Search results
Title Study of the pulse height defect of 4H-SiC Schottky barrier detectors in heavy ion detection Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Ivanov O.M. Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gurov J.B. Skuratov V.A. Source document AIP Conference Proceedings. Vol. 2411 (2021), no. 070007 Category ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2021 DOI 10.1063/5.0067353 File name Access Size Downloaded Type License Study of the Pulse Height Defect of 4H-SiC Schottky Barrier.pdf available 1.1 MB 2 Publisher's version 
article
Title The amplitude defect of SiC detectors during the recording of accelerated Xe ions Author Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Gurov J.B. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Rozov S.V. Rozov I.E. Sandukovsky V.G. Skuratov V.A. Source document Physics of atomic nuclei. Vol. 82 (2019), p. 1682-1685 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2019 DOI 10.1134/S1063778819120111 article
Title The effect of Xe ion irradiation on the properties of SiC(P) and SiC(B) film prepared by PECVD technology Author Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Skuratov V.A. Kleinová Angela 1960- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV Sasinková Vlasta 1954- SAVCHEM - Chemický ústav SAV Kobzev A.P. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Source document ADEPT 2019 : 7th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies. P. 155-158. - Žilina, Slovakia : University of Žilina, 2019 / Jandura D. ; Šušlik Ľ. ; Urbancová P. ; Kováč J., jr. ; ADEPT 2019 7th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies Category AFD - Published papers from domestic scientific conferences Year 2019 article
Title Radiation hardness investigation of heterojunction solar cell structures with TCO antireflection films Author Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Perný M. Mikolášek M. Skuratov V.A. Kobzev A.P. Šály V. Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Source document Journal of Physics: Conference Series : MME 2018. Vol. 1319 (2019), no. 012016 Category ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2019 DOI 10.1088/1742-6596/1319/1/012016 File name Access Size Downloaded Type License Radiation hardness investigation of heterojunction solar cell structures with TCO antireflection films.pdf available 1.6 MB 2 Publisher's version article
Title Schottky barrier detectors based on high quality 4H-SIC semiconductor: electrical and detection properties Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Osvald Jozef 1953 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sedlačková K. Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Skuratov V.A. Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Source document Applied Surface Science. Vol. 461 (2018), p. 276-280 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1016/j.apsusc.2018.07.008 article
Title Characteristics of Si and SiC detectors at registration of Xe ions Author Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Gurov J.B. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Mitrofanov S.V. Rozov S.V. Sedlačková K. Sandukovsky V.G. Semin V.A. Nečas V. Skuratov V.A. Source document Journal of Instrumentation. Vol. 13 (2018), no. P11005 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1088/1748-0221/13/11/P11005 URL URL link File name Access Size Downloaded Type License Characteristics of Si and SiC detectors at registration of Xe ions.pdf Neprístupný/archív 1.2 MB 1 Publisher's version article
Title A study of the radiation hardness of Si and SiC detectors using a Xe ion beam Author Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Gurov J.B. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Ivanov O.M. Mitrofanov S.V. Rozov S.V. Sandukovsky V.G. Semin V.A. Skuratov V.A. Action VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 Source document Instruments and Experimental Techniques. Vol. 61, iss. 6 (2018), p. 769-771 Category ADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted) Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2018 DOI 10.1134/S0020441218060192 article
Title High energy ion detection using 4H-SiC semiconductor detector Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sedlačková K. Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Skuratov V.A. Nečas V. Source document APCOM 2017 : proceedings of the 23th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, June 12-14, 2017, Štrbské Pleso, Slovak Republic. P. 154-157. - Bratislava : SPEKTRUM STU, 2017 / Vajda J. ; Jamnický I. Category AFD - Published papers from domestic scientific conferences Year 2017 article
Title Influnce of exposure with Xe radiation on heterojunction solar cell a-SiC/c-Si studied by impedance spectroscopy Author Perný M. Co-authors Šály V. Packa J. Mikolášek M. Váry M. Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Skuratov V.A. Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Source document Journal of Physics: Conference Series. Vol. 829 (2017), art. no. 012016 Category ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2017 DOI 10.1088/1742-6596/829/1/012016 URL URL link File name Access Size Downloaded Type License Influnce of exposure with Xe radiation on heterojunction solar cell a-SiCc-Si studied by impedance spectroscopy.pdf available 806.9 KB 0 Publisher's version article
Title Particle detectors based on 4H-SiC epitaxial layer and their properties Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sedlačková K. Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Skuratov V.A. Source document ASDAM 2016 : the 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 141-144. - : IEEE, 2016 / Haščík Štefan 1956 ; Dzuba Jaroslav 1987 ; Vanko Gabriel 1981 Category ADMB - Scientific papers in foreign non-impacted journals registered in Web of Sciences or Scopus Category of document (from 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Type of document článok Year 2016 DOI 10.1109/ASDAM.2014.6998647 article