Search results

Records found: 17  
Your query: Author Sysno/Doc.kind = "^sav_un_auth 0193874 xcla^"
  1. TitleHigh-resolution alpha-particle detector based on Schottky barrier 4H-SiC detector operated at elevated temperatures up to 500 °C
    Author Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Šagátová A.
    Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Action APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022
    APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023
    Source document Applied Surface Science. Vol. 635 (2023), art. no. 157708
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2023
    DOI 10.1016/j.apsusc.2023.157708
    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    High-resolution alpha-particle detector based on Schottky barrier 4H-SiC.pdfNeprístupný/archív3.3 MB2Publisher's version
    article

    article

  2. TitleGaAs radiation-degraded detectors: gamma spectrometry at lowered temperatures
    Author Šagátová A.
    Co-authors Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Novák A.
    Kotorová S.
    Riabukhin O.
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document Journal of Instrumentation. Vol. 17 (2022), no. C12018
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2022
    DOI 10.1088/1748-0221/17/12/C12018
    article

    article

  3. TitleHigh-quality detectors based on 4H-SiC operated at different temperatures
    Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Šagátová A.
    Osvald Jozef 1953 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document ASDAM 2022 : Conference Proceedings. P. 203-206. - : IEEE, 2022 / Marek Juraj ; Donoval D. ; Vavrinský E. ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems
    CategoryAFD - Published papers from domestic scientific conferences
    Category of document (from 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Type of documentpríspevok z podujatia
    Year2022
    article

    article

  4. TitleFrom a single silicon carbide detector to pixelated structure for radiation imaging camera
    Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Šagátová A.
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Novák A.
    Osvald Jozef 1953 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Polansky Š.
    Jakubek J.
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document Journal of Instrumentation. Vol. 17 (2022), no. C12005
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2022
    DOI 10.1088/1748-0221/17/12/C12005
    article

    article

  5. TitleTesting of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector
    Author Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Ferrari C.
    Source document Journal of Instrumentation. Vol. 16 (2021), no. P06015
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2021
    DOI 10.1088/1748-0221/16/06/P06015
    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdfavailable4.2 MB1Author's preprint
    Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdfNeprístupný/archív925.3 KB1Publisher's version
    article

    article

  6. TitleAging of electron-written YBCO superconducting thin film structures
    Author Talacko Marcel SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Španková Marianna 1969 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Štrbík Vladimír 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Mičušík Matej 1977- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV
    Camerlingo C.
    Jung G.
    Source document Journal of Materials Science. Materials in Electronics. Vol. 32 (2021), p. 28687–28694
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2021
    DOI 10.1007/s10854-021-07243-0
    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    Aging of electron-written YBCO superconducting thin.pdfNeprístupný/archív1.1 MB1Publisher's version
    article

    article

  7. TitlePtSe2 few-layer films grown on NbN superconducting substrate
    Author Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Hrdá Jana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Volkov S.
    Végso Karol 1984 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Shaji Ashin 1991 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Vojteková Tatiana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Pribusová Slušná Lenka SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Roch T.
    Gregor M.
    Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document Proceedings of ADEPT 2021 : 9th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies, Podbanské, High Tatras, Slovakia. P. 9-12. - Žilina : Univ. Zilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2021 / Jandura D. ; Maniaková P. ; Lettrichová I. ; Kováč Jaroslav Jr.
    CategoryAFD - Published papers from domestic scientific conferences
    Year2021
    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    PtSe2 few-layer films grown on NbN superconducting substrate.pdfavailable619.8 KB2Publisher's version
    article

    article

  8. TitleCharacterization of thickness homogeneity of Si crystal membranes produced by single point diamond turning
    Author Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Mazzolari A.
    Romagnoni M.
    Ferrari C.
    Source document Progress in applied surface, interface and thin film science – solar renewable energy news 2021. SURFINT – SREN VII : extended abstract book. P. 72-73. - Bratislava : Comenius Univ., 2021 / Brunner Róbert 1954
    CategoryAFH - Abstracts of papers from domestic conferences
    Year2021
    article

    article

  9. TitleGrowth of PtSe2 few-layer films on NbN superconducting substrate
    Author Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Hrdá Jana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Volkov S.
    Végso Karol 1984 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Shaji Ashin 1991 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Vojteková Tatiana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Pribusová Slušná Lenka SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Roch T.
    Gregor Maroš
    Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document Applied Physics Letters. Vol. 119, no. 1 (2021), 013101
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2021
    DOI 10.1063/5.0053309
    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    Growth of PtSe2 few-layer films on NbN superconducting.pdfavailable6.2 MB4Publisher's version
    Growth of PtSe2 few-layer films on NbN superconducting.pdfNeprístupný/archív6.2 MB0Publisher's version
    article

    article

  10. TitleStudy of the contrast resolution of Timepix detector with a semi-insulating GaAs sensor
    Author Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Šagátová A.
    Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Žemlička J.
    Jakubek J.
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Nečas V.
    Action VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020
    APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023
    VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023
    APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022
    Source document Journal of Instrumentation. Vol. 15 (2020), no. C04004
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2020
    DOI 10.1088/1748-0221/15/04/C04004
    File nameAccessSizeDownloadedTypeLicense
    Study of the contrast resolution of Timepix detector.pdfNeprístupný/archív1.5 MB1Publisher's version
    article

    article


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.