Počet záznamov: 1
Atomic Force Microscopy
Názov Atomic Force Microscopy : understanding basic modes and advanced applications Autor Haugstad Greg Vyd.údaje Hoboken : John Wiley and Sons, Inc. , 2012. - 464 s. Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty ISBN 978-0-470-63882-8 Katal.org. SAVEXFYZ Počet ex. 2, z toho voľných 0, prezenčne 2 Druh dok. monografie 
kniha
Signatúra Lokácia Dislokácia Info 11645 Ústav exper. fyziky SAV len prezenčne 11652 Ústav exper. fyziky SAV len prezenčne
Počet záznamov: 1