On the problem of overlopping ě scans measured on thin films deposited on monocrystal substrates

Počet záznamov: 1

Názov	On the problem of overlopping ě scans measured on thin films deposited on monocrystal substrates
Autor	Machajdík Daniel SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
Spoluautori	Pevala Anton SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Rosová Alica 1962 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Šouc Ján 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Weiss F.
	Figueras A.

Zdroj.dok.	Journal of Applied Crystallography. Vol. 32 (1999), p. 736-743
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	GB - Veľká Británia
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Ohlasy	BOULLE, A. - MASSON, O. - GUINEBRETIERE, R. - DAUGER, A. THIN SOLID FILMS. ISSN 0040-6090, JUN 23 2003, vol. 434, no. 1-2, p. 1-6.
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	1999

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
1999	1998	1.569

Počet záznamov: 1