Experimental evidence for complementary spatial sensitivities of capaticance

Počet záznamov: 1

Názov	Experimental evidence for complementary spatial sensitivities of capaticance and charge deep-level transient spectroscopies
Autor	Thurzo Ilja SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
Spoluautori	Beyer R.
	Zahn D.R.T.

Zdroj.dok.	Semiconductor Science and Technology. Vol. 15, no. 4 (2000), p. 378-385
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Ohlasy	ROTHENBERGER, J.B. A Q-DLTS investigation of aluminium nitride surface termination. In SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2012, vol. 15, no. 4, pp. 378-385.
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2000

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2000	1999	1.220

Počet záznamov: 1