Počet záznamov: 1
Defect oriented fault coverage of 100% stuck-at fault test set
Názov Defect oriented fault coverage of 100% stuck-at fault test set Autor Blyzniuk M. Spoluautori Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS RID Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Zdroj.dok. Mixed design of integrated circuits and systems. P. 511-516 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina PL - Poľsko Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2000 článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 0
Počet záznamov: 1