High resolution scanning electron microscopy in nanostructures investigation patterned using electron beam lithography

Počet záznamov: 1

Názov	High resolution scanning electron microscopy in nanostructures investigation patterned using electron beam lithography
Autor	Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
Spoluautori	Andok Robert 1973- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID

Zdroj.dok.	Proceedings of Autumn School 2000 on materials science and electron microscopy : Poster Contribution. P. 47-48 / Su D. S. ; Wrabetz S.. - Berlin, Germany, 2000
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	DE - Nemecko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
Rok vykazovania	2000

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2000

Počet záznamov: 1