Počet záznamov: 1
Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Názov Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits Autor Blyzniuk M. Spoluautori Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS RID Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Zdroj.dok. IEEE European Test Workshop. Order No. PROO390 (2000), p. 69-74. - Los Alamitos, California : IEEE Computer Society Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Ohlasy AHMAD, A. - AL-ABRI, D. Design of a dynamic test tool in the area of digital system testing. In International Conference on Communication, Computer and Power - icccp´09. ISSN 1813-419X. 2009, p. 9-12. Kategória ADC Rok vykazovania 2000 Registrované v WOS článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2000
Počet záznamov: 1