Vyšetrovanie vlastností antireflekčných vrstiev SiN a SiO pre GaAs fotodetektory

Počet záznamov: 1

Názov	Vyšetrovanie vlastností antireflekčných vrstiev SiN a SiO pre GaAs fotodetektory
Autor	Šafránková Jaroslava SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
Spoluautori	Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Guldan Arnošt SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Kubek Jozef SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

Zdroj.dok.	Elektrotechnický časopis. Roč. 36, č. 10 (1985), s.
Jazyk dok.	slo - slovenčina
Krajina	CS - Československo
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Heslá	GaAs * fotodetektory - vrstvy antireflekčné * SiN * SiO
Kategória	ADFB - Vedecké práce v ostatných domácich časopisoch neimpaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	1985

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
1985

Počet záznamov: 1