Počet záznamov: 1  

Critical fields of W/Si multilayers

  1. NázovCritical fields of W/Si multilayers
    Autor Rosseel E.
    Spoluautori Baert M.

    Temst K.

    Moshchalkov V.V.

    Bruynseraede Y.

    Lobotka Peter 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Vávra Ivo 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV

    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV    SCOPUS    RID    ORCID

    Zdroj.dok.Physica C. Vol. 225, (1994), p. 262
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaNL - Holandsko
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    Heslásupermriežky - W/Si * elektrotechnika slaboprúdová
    OhlasyMATSUO, Y. - NOJIMA, T. - MAJKOVA, E. - KUWASAWA, Y. PHYSICA C. ISSN 0921-4534, APR 10 1998, vol. 299, no. 1-2, p. 23-30.
    MATSUO, Y. - NOJIMA, T. - KUWASAWA, Y. - MAJKOVA, E. - LUBY, S. PHYSICA C. ISSN 0921-4534, APR 1 1997, vol. 277, no. 1-2, p. 138-144.
    FLORYA, I.N. - KORNEEVA, Y.P. - MIKHAILOV, M.Y. - DEVIZENKO, A.Y. - KORNEEV, A.A. - GOLTSMAN, G.N. Photon counting statistics of superconducting single-photon detectors made of a three-layer WSi film. In LOW TEMPERATURE PHYSICS. MAR 2018, vol. 44, no. 3, p. 221-225.
    LAU, Y.C. - AKIYAMA, R. - HIROSE, H.T. - NAKANISHI, R. - TERASHIMA, T. - UJI, S. - HASEGAWA, S. - HAYASHI, M. Concomitance of superconducting spin-orbit scattering length and normal state spin diffusion length in W on (Bi,Sb)(2)Te-3. In JOURNAL OF PHYSICS-MATERIALS. JUL 2020, vol. 3, no. 3.
    KategóriaADMA - Vedecké práce v zahraničných impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania1994
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    DOI 10.1016/0921-4534(94)90722-6
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    N
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    1994
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.