Počet záznamov: 1  

Defect-oriented test generation using probabilistic estimation

  1. NázovDefect-oriented test generation using probabilistic estimation
    Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Spoluautori Fischerová Mária 1955-    SCOPUS

    Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS    RID

    Kuzmicz W.

    Pleskacz W.

    Raik J.

    Ubar R.

    Zdroj.dok. Proceedings of the 8th International Conference MIXDES 2001 : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems. P. 131-136. - Poland : Andrzej Napieralski, 2001
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rzb)
    KategóriaAFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Rok vykazovania2001
    článok

    článok

    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2001
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.