Defect-oriented test pattern generation for circuits with complex gates

Počet záznamov: 1

Názov	Defect-oriented test pattern generation for circuits with complex gates
Autor	Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
Spoluautori	Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	Kuzmicz W.
	Mikloš P.
	Pleskacz W.

Zdroj.dok.	ECS'01.Conference Proceedings : 3rd Electronic Circuits and Systems Conference. P. 3-6. - Bratislava, 2001
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2001

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2001

Počet záznamov: 1