Počet záznamov: 1  

Sensitivity and Resolution Limits in Scanning Capacitance Microscopy

  1. NázovSensitivity and Resolution Limits in Scanning Capacitance Microscopy
    Autor Lányi Štefan 1944 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Hruškovic M.

    Zdroj.dok. Mat.Res.Soc.Symp.Proc. Vol. 699. P. R. 1. 3. 1-6 / Gerhardt R.A. ; Washabaugh A. ; Alim M.A. ; Choi G.M.. - Warrendale,PA : Mat.Res.Soc., 2002
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaUS - Spojené štáty
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rzb)
    KategóriaABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupukapitola
    Rok vykazovania2002
    článok

    článok

    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2002
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.