Počet záznamov: 1  

Electrical field mapping in InGaPHEMTs and GaAs tetrahertz emitters using backside infrared OBIC technique

  1. NázovElectrical field mapping in InGaPHEMTs and GaAs tetrahertz emitters using backside infrared OBIC technique
    Autor Pogany D. SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Darmo Juraj

    Litzenberger S.

    Bychikhin K.

    Unterrainer Z.

    Mozolová Želmíra SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Gornik E.

    Zdroj.dok. Microelectronic Reliability. Vol. 42 (2002), p. 1673-1677
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    KategóriaADC
    Rok vykazovania2002
    článok

    článok

    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2002
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.