Confidence intervals on thin dielectric layer parameters calculated from spectral reflectance data

Počet záznamov: 1

Názov	Confidence intervals on thin dielectric layer parameters calculated from spectral reflectance data
Autor	Brunner Róbert 1954 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
Spoluautori	Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID

Zdroj.dok.	Proc. 3rd Int.Workshop Solid State Surfaces and Interfaces III, Smolenice, Nov.19-21, 2002. P. 82 / Gmucová Katarína 1955 ; Brunner Róbert 1954. - Bratislava : Comenius Univ.Press, 2002
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2002

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2002

Počet záznamov: 1