Study of MIS structures with yttrium oxide films on silicon by capacitance measurements

Počet záznamov: 1

Názov	Study of MIS structures with yttrium oxide films on silicon by capacitance measurements
Autor	Harmatha L.
Spoluautori	Novotný
	Řeháček V.
	Matay Ladislav 1950- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	Loduha M.

Zdroj.dok.	APCOM 2002. (2002), S. 78-81. - Lipt. Mikuláš : Military Academy, 2002 / Mudroň J. ; Müllerová J. ; Šutta P. ; Harmatha L.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AED - Vedecké práce v domácich recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
Kategória (od 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok
Rok vykazovania	2002

kniha

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2002

Počet záznamov: 1