Počet záznamov: 1  

Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage

  1. NázovHierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
    Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Spoluautori 1955- Fischerová Mária SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS

    Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS    RID

    Kuzmicz W.

    Pleskacz W.

    Raik J.

    Ubar R.

    Zdroj.dok. Microelectronics reliability. No. 42 (2002), s. 1141-1149
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaUS - Spojené štáty
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasySHANG, Qing H. - WU, Li H. - XIANG, Fu J. Structure-based multi-fault test generation algorithm for combinational circuit. In Journal of Harbin Institute of Technology (New Series). ISSN 10059113, 2006-08-01, 13, 4, pp. 452-454.
    COSTA, A.L.T. - de BARROS NAVINER, L.A. Modelling stuck-at faults in combinational circuits with generalized stochastic Petri nets. In Proceedings of International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT'10). 2010, 4 p.
    WIELGUS, Andrzej - POTRYKUS, Bartosz. Resistive Shorts Characterization in CMOS Standard Cells for Test Pattern Generation. In ELECTRON TECHNOLOGY CONFERENCE 2013. ISSN 0277-786X, 2013, vol. 8902, no., pp.
    KRENZ-BAATH, Rene - GLOWATZ, Andreas - HAPKE, Friedrich. Fault Collapsing of Multi-Conditional Faults. In PROCEEDINGS OF THE 2013 IEEE 16TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS & SYSTEMS (DDECS), 2013, vol., no., pp. 42-47.
    ZHANG, Lijun - WANG, Ziou - LI, Youzhong - MAO, Lingfeng. A Precise Design for Testing High-Speed Embedded Memory using a BIST Circuit. In IETE JOURNAL OF RESEARCH. ISSN 0377-2063, 2017, vol. 63, no. 4, pp. 473-481.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Rok vykazovania2002
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1016/S0026-2714(02)00080-X
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2002
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.