Počet záznamov: 1
Thermal stability of ruthenium MOS gate electrodes
Názov Thermal stability of ruthenium MOS gate electrodes Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Čičo Karol SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Lupták Roman SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Harmatha L. Hooker J.C. Roozeboom F. Zdroj.dok. . S. 167-170 ASDAM 2004 : conference proceeding of the Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. Smolenice Castle, Slovakia October 17-21, 2004. - Piscataway : IEEE, 2004 / Osvald Jozef 1953 ; Haščík Štefan 1956 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z kníh (kapitoly) Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2004 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2004
Počet záznamov: 1