Thin-layer magnetic resonance imaging based on magnetic susceptibility pattern projections

Počet záznamov: 1

Názov	Thin-layer magnetic resonance imaging based on magnetic susceptibility pattern projections
Autor	Frollo Ivan 1939 SAVMER - Ústav merania SAV ^SCOPUS ^RID
Spoluautori	Andris Peter 1952 SAVMER - Ústav merania SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Juráš Vladimír 1978 SAVMER - Ústav merania SAV ^ORCID
	Strolka Igor SAVMER - Ústav merania SAV

Zdroj.dok.	MEASUREMENT 2005 : 5th International Conference on Measurement. P. 501-505. - Bratislava : Institute of Measurement Science, SAS, 2005 / Frollo Ivan 1939 ; Tyšler Milan 1951 ; Juráš Vladimír 1978 ; MEASUREMENT 2005 5th International Conference on Measurement
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AED - Vedecké práce v domácich recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
Kategória (od 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok
Rok vykazovania	2005
Registrované v	WOS

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2005

Počet záznamov: 1