Počet záznamov: 1  

Rapid thermal annealing and performance of Al2O3/GaN metal-oxide-semiconductor structures

  1. NázovRapid thermal annealing and performance of Al2O3/GaN metal-oxide-semiconductor structures
    Autor Čičo Karol SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Georgakilas A.

    Pogany D.

    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Zdroj.dok. ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 197-200. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaSK - Slovenská republika
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rzb)
    OhlasyKIM, H.D. - KIM, S. - YUN, M.J. Self-rectifying resistive switching behavior observed in Al2O3-based resistive switching memory devices with p-AlGaN semiconductor bottom electrode. In JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS. APR 25 2018, vol. 742, p. 822-827.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2006
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.