Počet záznamov: 1
First results observed with test X-CT system using GaAs radiation detector working in single photon counting regime
Názov First results observed with test X-CT system using GaAs radiation detector working in single photon counting regime Autor Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Frollo Ivan 1939 SAVMER - Ústav merania SAV SCOPUS RID Juráš Vladimír 1978 SAVMER - Ústav merania SAV ORCID Přibil Jiří 1962 SAVMER - Ústav merania SAV SCOPUS RID ORCID Jakubek J. Mudroň J. Zdroj.dok. ASDAM 2006 : Proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 213-216. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E. Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2006 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS DOI 10.1109/ASDAM.2006.331192 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2006
Počet záznamov: 1