Počet záznamov: 1
Defects in high-K gate dielectric stacks
Názov Defects in high-K gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices : proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on defects in Advanced High-K Dielectric Nano-electronicc Semiconductor Devices, St. Petetburg, Russia, July 11-14, 2005 Ďalší autori Gusev E.P. (Editor) Vyd.údaje Dordrecht : Springer , 2006. - 492 s. Edícia NATO Science Series. II. Mathematics, Physics and Chemistry : Vol. 220 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina DE - Nemecko Druh dok. zborníky Kategória AAA - Vedecké monografie vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V1 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako celok Typ výstupu monografia Rok vykazovania 2006 Odkazy (1) Publikačná činnosť SAV - články 
kniha
Počet záznamov: 1