Počet záznamov: 1  

Diagnostics of LT GaAs/InP structures by micro-Raman spectroscopy

  1. NázovDiagnostics of LT GaAs/InP structures by micro-Raman spectroscopy
    Autor Srnánek R.
    Spoluautori Irmer R.

    Zalusky F.

    Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Kúdela Róbert 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Vincze A.

    Novotný I.

    John J.

    Zdroj.dok. ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 55-58. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaUS - Spojené štáty
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rzb)
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2006
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.