Počet záznamov: 1
Microstructural Analysis and Transport Properties of RuO2-Based Thick Film Resistors
Názov Microstructural Analysis and Transport Properties of RuO2-Based Thick Film Resistors Autor Gabáni Slavomír 1974- SAVEXFYZ - Ústav experimentálnej fyziky SAV RID RID ORCID Spoluautori Flachbart Karol 1952 SAVEXFYZ - Ústav experimentálnej fyziky SAV SCOPUS RID ORCID Pavlík Vladimír SAVEXFYZ - Ústav experimentálnej fyziky SAV Pietriková A. Gabániová Mária Zdroj.dok. Acta Physica Polonica A. Vol. 113, no. 1 (2008), p. 625-628 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Ohlasy CIMBALA, R. - BERNAT, M. - BERNATOVA, R. Computer Modeling of Electrical Precipitation and Separation. In 11TH INTERNATIONAL SCIENTIFIC CONFERENCE ELECTRIC POWER ENGINEERING 2010, PROCEEDINGS, p. 209-214. LEMZYAKOV, S. A. - EDELMAN, V. S. The use of RuO2 resistors as broadband low-temperature radiation sensors. In INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES. ISSN 0020-4412, 2016, vol. 59, no. 4, pp. 621-626. LOZINSKII, N. S. - LOPANOV, A. N. - MOROZ, Ya. A. Compositions, Physical and Chemical Properties, and Compatibility of Lead-Boron-Silicate Glass with Ruthenium(IV) Oxide Compounds. In GLASS PHYSICS AND CHEMISTRY, 2021, vol. 47, no. 2, pp. 154-165. ISSN 1087-6596. Dostupné na: https://doi.org/10.1134/S1087659621020085. Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2008 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.12693/APhysPolA.113.625 
článok
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2008 2007 0.340 Q4 0.292 Q3
Počet záznamov: 1