Počet záznamov: 1
Memory test, BIST and self repair
Názov Memory test, BIST and self repair Autor Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS RID Spoluautori Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS Zdroj.dok. Design and Test Technology for Dependable Hardware/Software Systems. (2008) CD, 84 slides. - Cottbus : BTU , 2008 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina DE - Nemecko Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFA - Publikované pozvané príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2008 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2008
Počet záznamov: 1