Microwave characterization and properties of 2 µm gate length AlGaN/Gan HEMT structures

Počet záznamov: 1

Názov	Microwave characterization and properties of 2 µm gate length AlGaN/Gan HEMT structures
Autor	Tomáška M.
Spoluautori	Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Mišun M.

Zdroj.dok.	. P. 317-320 COMITE 2008 : Proceedings of the 14th Conference on Microwave Techniques. - Praha : Československá sekce IEEE, 2008
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	CZ - Česká republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AEE - Vedecké práce v zahraničných nerecenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
Kategória (od 2022)	O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok
Rok vykazovania	2008

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2008

Počet záznamov: 1