Investigation of critical properties in MgB2/SiC/Si thin films prepared under varied conditions

Počet záznamov: 1

Názov	Investigation of critical properties in MgB2/SiC/Si thin films prepared under varied conditions
Autor	Nishida A.
Spoluautori	Taka C.
	Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Durný R.

Zdroj.dok.	Journal of Physics: Conference Series. Vol. 150, (2009), art. no. 052186
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	GB - Veľká Británia
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2009

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2009	2008			0.264	Q3

Počet záznamov: 1